Paper von Karl Leo in Fachzeit­schrift
Advan­ced Materi­als veröffentlicht

Ein Team aus Physi­kern und Chemi­kern der TU Dresden, darun­ter Hector Fellow Karl Leo, Direk­tor des Insti­tuts für Angewandte Physik (IAP) und des Integrier­ten Zentrums für Angewandte Physik und Photo­ni­sche Materia­lien (IAPP), präsen­tie­ren einen organi­schen Dünnschicht­sen­sor, der für die Analyse von Licht­quel­len und den Einsatz in der Fälschungs­si­cher­heit einge­setzt werden kann. Er beschreibt eine ganz neue Art der Wellen­län­ge­n­iden­ti­fi­ka­tion von Licht und erreicht eine spektrale Auflö­sung unter­halb eines Nanome­ters. Als integrierte Bauteile könnten die Dünnschicht­sen­so­ren in Zukunft den Einsatz von exter­nen Spektro­me­tern überflüs­sig machen. Der Dünnschicht-Wellen­län­gen­sen­sor hat den Vorteil, dass er kleiner und preis­wer­ter ist als kommer­zi­elle Spektrometer.

Spektro­sko­pie umfasst eine Gruppe von experi­men­tel­len Verfah­ren, die Strah­lung nach einer bestimm­ten Eigen­schaft, z.B. Wellen­länge oder Masse, zu zerle­gen. Sie gilt als eine der wichtigs­ten Analy­se­me­tho­den in Forschung und Indus­trie. Spektro­me­ter können Farben (Wellen­län­gen) von Licht­quel­len bestim­men und werden als Senso­ren in verschie­de­nen Anwen­dungs­ge­bie­ten wie Medizin, Technik, Lebens­mit­tel­in­dus­trie und vielem mehr einge­setzt. Markt­üb­li­che Geräte sind in der Regel relativ groß und sehr teuer. Sie basie­ren zumeist auf dem Prinzip des Prismas oder Gitters: Licht wird gebro­chen und die Wellen­länge entspre­chend des Brechungs­win­kels zugeord­net. Aufgrund seiner gerin­gen Größe und Kosten weist der neue organi­sche Dünnschicht­sen­sor klare Vorteile gegen­über den handels­üb­li­chen Spektro­me­tern auf. „Neben der Charak­te­ri­sie­rung von Licht­quel­len, können die neuar­ti­gen Senso­ren auch in der Fälschungs­si­cher­heit einge­setzt werden: Mit den kleinen und kosten­güns­ti­gen Senso­ren könnten zum Beispiel Geldscheine oder Dokumente schnell und sicher auf bestimmte Sicher­heits­merk­male geprüft und somit deren Echtheit bestimmt werden, ganz ohne aufwän­dige Labor­tech­nik“, erläu­tert Anton Kirch, Dokto­rand am Insti­tut für Angewandte Physik (IAP).

Die neuar­tige Techno­lo­gie wurde bereits zum Patent angemeldet.

Herzli­chen Glück­wunsch Karl Leo!